8月22日，沙特阿卜杜拉國(guó)王科技大學(xué)韓宇教授應(yīng)邀在中國(guó)科學(xué)院大連化學(xué)物理研究所作了題為“Advancing High-resolution TEM Imaging of Electron Beam-sensitive Materials from Impossible to Routine”的70周年所慶學(xué)術(shù)報(bào)告。所長(zhǎng)劉中民主持報(bào)告會(huì)，并向韓宇頒發(fā)了所慶學(xué)術(shù)報(bào)告獎(jiǎng)牌。大連化物所科研人員和研究生近70人參加了報(bào)告會(huì)。

沙特阿卜杜拉國(guó)王科技大學(xué)韓宇來(lái)大連化物所作70周年所慶學(xué)術(shù)報(bào)告

　　在報(bào)告中，韓宇詳細(xì)介紹了其研究團(tuán)隊(duì)開(kāi)發(fā)的一種最新的低劑量高分辨透射電鏡成像技術(shù)，對(duì)電子束敏感材料進(jìn)行原子級(jí)高分辨透射電鏡成像和分析。他以Uio-66、MIL-101、NU-1000、ZIF-8等MOF材料為實(shí)例，講解了這種成像和分析技術(shù)在研究電子束敏感材料的微觀結(jié)構(gòu)、結(jié)構(gòu)缺陷、客體分子、表界面微觀原子排布等方面的強(qiáng)大優(yōu)勢(shì)；通過(guò)Mo/ZSM-5實(shí)例，描述了這種技術(shù)在研究分子篩孔道中客體分子分布的潛在可能。報(bào)告后，韓宇和與會(huì)人員進(jìn)行了熱烈討論，對(duì)提出的問(wèn)題一一做了詳盡的解答，為以后的交流與合作奠定了良好的基礎(chǔ)。